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XRD測(cè)試原理——測(cè)定物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的重要方法

XRD測(cè)試原理——測(cè)定物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的重要方法

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版權(quán)說(shuō)明

發(fā)布日期：2021-04-24

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來(lái)源：百度

簡(jiǎn)介：
X射線衍射分析是測(cè)定物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的重要方法，在古陶瓷、古冶金制品、古顏料、古玉器、石器、寶石等古文物研究分析中發(fā)揮著重要作用，為文物鑒定“借了一雙慧眼”。利用XRD技術(shù)對(duì)文物的制作材料進(jìn)行研究，可以為文物的鑒定提供有力的科學(xué)證據(jù)。

適用專業(yè)(1)

    本科(1):

  • 材料物理
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